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半導体デバイス故障解析研究会(旧:LSI故障解析研究会)主査:二川 清

研究会の紹介活動内容

(1)活動内容
半導体デバイスの故障解析技術の分野において活動を行っている技術者・研究者に限定して,高度な技術・研究レベルでの,密度の高い討論を行います.
・研究員が研究中の最新技術の紹介
・研究会以外からの招待講演
・他の研究会,国際会議,国内会議,論文などで発表された研究・技術
などをベースに,活発な,忌憚のない議論を行い,研究員相互のレベルアップを図りその結果として日本の半導体デバイスの故障解析技術のレベル向上に寄与することを目的とします.

(2)計画
年2回の開催を予定しています.日時・場所・発表者は未定です.

(3)発表 ・研究成果の発表予定はありません.


【2022.7掲載】

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