REAJ日本信頼性学会
[終] 日本信頼性学会 関西支部2016年度 第1回見学会
関西支部
開催日 : 2016-06-07 (火)

 日本信頼性学会関西支部の見学会を開催します.会員の皆様は勿論,会員外の方々もお誘い合わせの上,是非多数ご参加くださいますよう,ご案内申し上げます

(日  時) 2016年6月7日(火) 13:00~17:00

(見 学 先) 株式会社東レリサーチセンター
        〒520-8567 滋賀県大津市園山3-3-7(東レ研究東3号館)
        同センターHP
        http://www.toray-research.co.jp/aboutus/shozaichi/shiga.html

(集  合) 東レ研究東門前 12:50
       または 石山駅前12:40(タクシー便乗の場合)

(交  通) JR琵琶湖線「石山駅」からタクシー5分
       または「石山駅」から帝産バス「東レ・焼野循環・焼野口行」で,「売店前」下車
       (バス乗り場は3番,所要時間10分,運行時刻注意 12:09または12:39発)

(概  要)  株式会社 東レリサーチセンター様は,東レ株式会社様の研究開発部門から,1978年6月に独立して発足され,製品・材料から医薬・バイオなどの研究・生産分野における分析・物性評価に関する受託分析・調査・技術支援を行われています.広範囲の技術分野で活躍され,長年の実績を持たれておりますので,多くの学会員の皆様にも大変興味深いお話をいただけることが期待されます.滋賀ラボラトリは東レリサーチセンター様の研究拠点であり,最先端の分析技術を拝見できる大変貴重な機会ですので,是非多くの方のご参加をお待ちしております.

(内  容)
 1.東レリサーチセンター様 企業ご説明     13:15~13:30
 2.技術ご紹介                 13:30~15:00
      ①分光学的手法による半導体故障解析
        FT-IR,ラマン分光,ルミネッセンス法等による,解析法と事例のご紹介.
      ②半導体・実装分野での3次元観察手法
        FIB-SEMを用いた数~数十μm領域の3次元観察事例のご紹介.
        TEM-Tomographyを用いた半導体素子の構造解析事例.
      試作,信頼性評価,故障解析についてもご紹介いただける予定です.
3.施設見学                    15:00~17:00
     ラボ内見学,ポスターご説明など
      (時間は進捗状況により前後する可能性が有ります)

(参 加 費) 会員・学生:無料  非会員:2,000円

(申込方法) 下記フォームからご予約ください
         1回のお申込につき1名様のみお受けいたします.
         複数名様でお申込の際は、人数分のお手続きをお願いいたします.
※1 会員番号(非会員の場合は“一般”と記入),氏名,勤務先,連絡先(E-mail,TEL)を入力.
※2 不明な点があれば,下記問合せ先に連絡してください.

(申込締切) 2016年5月31日(火)

(問合せ先) 日本信頼性学会 関西支部 事務局[植村]
        〒530-0003 大阪市北区堂島2-4-27 新藤田ビル11階
        (一財)日本科学技術連盟 大阪事務所内

注: 見学先事業と競合する企業の方のご参加はご遠慮願います(詳細は,事務局へお問い合わせください).参加人数は40名以内とします.定員になり次第締め切ります.