日本信頼性学会2021年度第2回信頼性フォーラム
「電子部品、電子機器の故障解析とは･･･。原点に立ち返り考える」
2022年3月10日（木）10:25～17:15 Microsoft Teamsによるオンライン開催■ 【資 料】
「電子部品・電子機器の故障解析概要」
味岡恒夫氏（故障物性ソリューション）
「SEM/EDSで出来る故障解析～依頼分析の前に～」
斎藤 彰氏（村田製作所）
「光学的手法を用いた応力・結晶欠陥評価法と電子部品、半導体デバイスへお適用」
杉江隆一氏（東レリサーチ)
「透過Ｘ線／Ｘ線CTと超音波探傷の違いについて」
中川 渉氏（日本バーンズ）
「解析受託サービス各社からのプレゼン」
高森 圭氏（沖エンジニアリング）
「解析受託サービス各社からのプレゼン」
池本 裕氏（クオルテック）
「解析受託サービス各社からのプレゼン」
廣岡知之氏（楠本化成ETAC）
