日本信頼性学会 第36回秋季信頼性シンポジウム 報文集（2023.11.2（木）オンライン開催
■ 【資 料】（敬称略）
【セッション１：システムの信頼性，保全性，ライフサイクル，ソフトウェア面及び理論】
「１－１：鉄道信号用電子機器の使用環境調査に基づく劣化ストレス主要因の選定」
〇高﨑 建，藤田浩由（（公財）鉄道総合技術研究所）
「１－２：複数カメラ画像を用いた3バージョン物体検出システムの信頼性評価」
〇高橋満帆，町田文雄（筑波大学）
「１－３：物理モデリングとその階層化に対応したSTAMP／STPAの活用手法の提案」
〇市村純一（放送大学／ニュートンワークス株式会社）
【招待講演】
「様々な誘電体層における経時絶縁破壊の故障メカニズムに関する考察」
〇門田 靖（株式会社リコー）
【セッション２：試験，故障解析，部品，要素技術の信頼性，ハードウェア面】
「２－１：信頼性試験研究会活動報告－故障物理と信頼性試験」
〇松岡敏成（日本信頼性学会・信頼性試験研究会）
「２－２：＋極からのECM伸長メカニズム一考察」
〇 伊藤貞則（イトケン事務所）
「２－３：LSIプロセス診断の微細プロセスデバイス適用」
〇 大谷直己, 柳生瑛子, 根本規生, 河原宏昭, 新藤浩之, 矢部一博,
立山博丈, 村上功, 谷田川祐生, 浅井憲二, 高森圭, 鈴木浩一
（宇宙航空研究開発機構＆沖エンジニアリング株式会社）
「２－４：温度サイクルウィスカ伸長メカニズム一考察」
〇伊藤貞則（イトケン事務所）
